GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量.pdf

GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量.pdf
1范围
本文件适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本文件规定两种试验方法(A和C)和一种基准测量方法(方法B)。方法A以IEC 60444-5的π型网络为基础,适用于本文件所覆盖的整个频率范围。基准测量方法B依据IEC 60444-5或IEC 60444-8的π型网络或反射法为基础,适用于本文件所覆盖的整个频率范围。方法C是振荡器法,适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。
注:本文件规定的测量方法不仅适用于AT切型，也适用于其他晶体切型和振动模式，如双转角切型和报动模式(IT,SC)和音叉晶体元件(通过使用高阻抗测试夹具)。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注8期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
IEC 60444-5石英晶体元件参数的测量第5部分;采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法(Measurement of quartz crystal unit parameters- Part 5: Methods for the determination of equivalent electrical parameters using automatic network analyzer techniques and error correction)
IEC 60444-8 石英晶体元件参数的测量第8 部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具(Meas-urement of quartz crystal unit parameters- Part 8: Test fixture for surface mounted quartz
crystal units)
注: GB/T 22319.8- -2008石英 晶体元件参数的测量第8部分;表面贴装石英晶体元件用洲量夹具(IEC 60444-8:2003,IDT)